包裝材料 微泄漏密封測(cè)試儀 托盤(pán)槽或下腔體 上海理濤

包裝材料 微泄漏密封測(cè)試儀 托盤(pán)槽或下腔體 上海理濤




托盤(pán)槽或下腔體： 

測(cè)試腔的下半部分其尺寸設(shè)計(jì)成緊密貼合供試包裝的外形,同時(shí)也要使氣體易于環(huán)繞供試包裝流動(dòng)。如果氣流不能環(huán)繞包裝流動(dòng),泄漏點(diǎn)會(huì)被堵塞。相反,測(cè)試腔和測(cè)試包裝之間的間隙越大,檢漏靈敏度越差,因?yàn)樵谳^大的測(cè)試腔體中,來(lái)自包裝泄漏的真空衰減將會(huì)減小。



真空衰減測(cè)試系統(tǒng)： 

真空衰減測(cè)試系統(tǒng)由一個(gè)真空源和壓力傳感器組成。真空源用于在測(cè)試周期開(kāi)始時(shí)在測(cè)試腔內(nèi)建立所需的真空,而一只壓力傳感器(絕壓或表壓)或與另一只壓差傳感器結(jié)合,前者用來(lái)監(jiān)測(cè)真空度,后者用來(lái)監(jiān)測(cè)在測(cè)試周期內(nèi)壓力隨時(shí)間的變化。預(yù)期使用較高目標(biāo)真空度(如+1mbar或不到+1mbar,)的測(cè)試系統(tǒng),宜設(shè)計(jì)成較高的目標(biāo)壓力測(cè)量精度和Z小的系統(tǒng)泄漏,氣體外泄可能影響測(cè)試中測(cè)量信噪比。